高溫(耐久)試驗
目的
檢驗探測器耐受高溫的能力(A1.A2和B類探測器不進行此項試驗)。
方法
1將試樣放人表 6 所示溫度的試驗箱內(nèi)持續(xù)21d。高溫環(huán)境期間試樣不通電.
2將試樣由試驗箱中取出,在正常大氣條件下恢復(fù)1h以上,按4.1.2規(guī)定連接,并接通電源，觀察并記錄試樣狀態(tài)。若試樣能處于正常監(jiān)視狀態(tài),按4.1.5規(guī)定,分別以3℃/min和20℃/min的升溫速率升溫至試樣動作。記錄試樣在各升溫速率下的響應(yīng)時間。
3要求
a)高溫環(huán)境后,接通電源和監(jiān)視沒備,試樣不應(yīng)發(fā)出故障信號;
b)可復(fù)位探測器試樣對3C/min 升溫速率的響應(yīng)時間不應(yīng)小于7 min13s,且與環(huán)境試驗前響應(yīng)時間相比變化不應(yīng)超過2 min 40 s;對20℃/min升溫速率的響應(yīng)時間不應(yīng)小于1min0 s，且與環(huán)境試驗前響應(yīng)時間相比變化不應(yīng)超過30s;
c)不可復(fù)位探測器試樣的響應(yīng)時間應(yīng)符合表4規(guī)定。
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